Автор: Пользователь скрыл имя, 27 Сентября 2011 в 13:48, курс лекций
Предлагаемый конспект лекций содержит основные понятия кристаллографии, рассматривает основы структурного анализа. Конспект представляет первую часть излагаемого курса “Кристаллография и структурный анализ полупроводниковых материалов” и является дополнением к читаемому курсу “Технология материалов и элементов электронной техники”, что необходимо при подготовке специалистов направления 550700 Электроника и микроэлектроника. Курс лекций обеспечивает проведение практических занятий со студентами при ознакомлении их с экспериментальными методами исследования структуры полупроводников.
Международное
обозначение кристалла иное. Первая
буква указывает тип
По
совокупности этих элементов симметрии
можно установить к какой сингонии относится
данный кристалл. В каждой сингонии принята
своя последовательность в расположении
элементов симметрии в формуле кристалла.
1.9.
Кристаллографические
индексы
Для того чтобы определить положение отдельных узлов, а также прямых и плоскостей, проходящих через эти узлы в пространственной решетке, в кристаллографии приняты специальные обозначения. Эти обозначения в настоящее время стандартизованы и носят название кристаллографических индексов.
Известно, что положение точки в пространстве, или узла в элементарной ячейке, можно задать тремя координатами, относительно выбранной системы координат.
В кристаллографии описание решетки начинается также с выбора координатной системы, причем выбор осей берется в соответствии с решеткой Бравэ. За начало координат в решетке принимается, как правило, положение одного из узловых атомов.
Существуют
два отличия
1)
В кристаллографической
2)
В случае косоугольной
Рис.1.10.
Кристаллографические индексы узла
[[mnp]].
Рис. 1.10 поясняет понятие кристаллографических индексов узла. Числа m, n, p являющиеся проекциями вектора R по оси x, y, z. Они и будут кристаллографическими индексами узла, определяющими его положение в элементарной ячейке. Индексы узла могут быть как целыми так и дробными числами.
Поскольку
все ячейки пространственной решетки
тождественны, то точке внутри какой-то
ячейки соответствует тождественная
точка во всех остальных ячейках.
В связи с этим в подавляющем
большинстве случаев положение
узлов характеризуют узлами, лежащими
в первой элементарной ячейке, ближайшей
к началу координат. Они и обозначаются
символами [[mnp]] или [[
]]. Эти индексы
связаны с реальным положением узла в
любой ячейке в решетки как
x¢=x+ma
y¢=y+nb или (1.1)
z¢=z+pc
Таким
образом, положение любого узла можно
определить, выразив его координаты
, через
координаты
известного
узла, прибавляя или отнимая целые значения m, n, p.
Рис.1.11.
Кристаллографические индексы прямых
[m n p].
С помощью трех индексов, обозначаемых буквами m, n, p задается и направление семейства параллельных прямых, проходящих через узлы решетки (рис.1.11). Оно определяется индексами узла, поскольку эти же отрезки определяют и положение вектора R
R=ma+nb+pc
.
При подстановке вместо букв m, n, p численных значений индексов для определения данного семейства прямых поступают следующим образом.
1) Выбирают прямую, проходящую через начало координат.
2)
Для обозначения прямой
3) Выбранный узел лежит ближе других к началу координат, т.е. индексы его не имеют общего множителя.
Таким образом, индексы семейства параллельных прямых выражаются всегда целыми числами, не имеющими общего множителя, как, например, направления [100], [111], [102]. По индексам этих прямых можно построить их в элементарной ячейке (рис.1.11).
Зная индексы прямой [mnp], можно определить и углы, которые она образуют с осями координат. Например, для кристаллов кубической системы углы между направлением [mnp] и осями x, y, z равны:
При
определении угла между двумя
произвольными направлениями в
кристалле устанавливаем
cosj=cosa1×cosa2 +
cosb1×cosb2 +
cosg1×cosg2
(1.4)
Подставляя из (1.3) значения cosj в (1.4), получим
Важным моментом является также определение узловой плоскости. Через узлы решетки можно провести ряд, параллельных между собой, узловых плоскостей (рис.1.12). Такие плоскости называются семейством параллельных плоскостей и характеризуются определенным межплоскостным расстоянием.
Рис.1.12.
Семейство параллельных плоскостей
и кристаллографические индексы
плоскостей (hkl).
Пусть плоскость отсекает на осях координат отрезки A, B, C. Уравнение этой плоскости в отрезках
где: G – целое число; x = ma, y = nb, z = pc – координаты какого-либо узла в плоскости. Так как m = x/a, n = y/b, p = z/c, то можно записать
Величины a/A, b/B, c/C – правильные дроби, и их отношение можно заменить отношением некоторых целых чисел
В этом случае всегда найдется множитель R (целое число, общий их знаменатель), который удовлетворяет условию: R = h , R = k , R = l и уравнение плоскости может быть записано: m(h/R) + n(k/R) + p(l/R) = G или mh + nk + pl = N, где N=GR – тоже целое число.
Для соседних плоскостей семейства величина N различается на 1. Так, для плоскости, проходящей через начало координат, mh + nk + pl = 0, ближайшей к началу координат:
mh + nk + pl = 1 (1.8)
Числа h, k, l, обратно пропорциональные отсекаемым плоскостью отрезкам на координатных осях, будут характеризовать положение самой плоскости в кристалле. Поэтому в кристаллографии принято определять положение плоскостей в элементарной ячейке и решетке кристаллов при помощи этих чисел– индексов, которые даются в круглых скобках. Если числа h,k,l не имеют общего множителя, то они характеризуют все семейство плоскостей. Кристаллографические индексы плоскости (h k l) называются также индексами Миллера. . Задание положения плоскостей индексами Миллера годится только для плоскостей не проходящих через начало координат [[000]].
Связь индексов Миллера с отрезками, отсекаемыми плоскостью на осях можно проследить на следующих примерах.
1). Плоскость отсекает на осях отрезки: a, b/2, c/3 т.е. A=a, B=b/2, C=c/3. Такую плоскость можно построить в системе координат элементарной ячейки.Чтобы перейти от отрезков к индексам плоскости, берутся величины, обратно пропорциональные отрезкам (в масштабе соответствующих осей). Полученные числа и будут индексами плоскости, т.е. (1,2,3).
2). Аналогично: отрезки, отсекаемые на осях: a/2, b, c – индексы плоскости (2,1,1).
Если индексы
содержат общий множитель, то на него
можно сократить – получим
индексы не конкретной плоскости, а
семейства плоскостей.
Обратная
задача: построить плоскость с индексами
(2,0,1). Отрезки обратно пропорциональны
индексам, в масштабах осей это: 1/2, ¥,
1. Откладываем отрезки и строим плоскость.
Если плоскости отсекают по осям отрицательные отрезки, то это отмечается знаком минус над соответствующим индексом, например ( ). Каждая комбинация индексов h, k, l определяет не одну плоскость, а бесконечную совокупность параллельных между собой плоскостей. При этом индексы (111), (222), (333) определяют одну и туже совокупность параллельных плоскостей (рис.1.12). Поэтому, если необходимо охарактеризовать сразу все семейство, то выбирают индексы плоскости, во-первых, наиболее близко расположенной к началу координат и, во-вторых, не имеющие общего множителя, т.е. в данном случае (111).
Информация о работе Лекции по "Кристаллографии и методы исследования структур"