Автор: Пользователь скрыл имя, 18 Января 2012 в 11:07, курсовая работа
Теоретической основой электроники являются современные представления физики твердого тела и физики полупроводников, объясняющие
сложные процессы, происходящие в различных полупроводниковых структурах
и в контактах различных типов полупроводников.
Целью данной курсовой работы является определение свойств полупроводников и характеристик p-n перехода.
Введение………………………………………………………………………7
№1. Расчет температурной зависимости концентрации равновесных носителей заряда в собственном полупроводнике…………..…………….…..…8
№2. Расчет температурной зависимости уровня Ферми в собственном полупроводнике…………………………………………………………………..…10
№3. Расчет температуры ионизации донорной примеси Тs и ионизации основного вещества Тi в полупроводнике n тока методом последовательных приближений………………………………………………………………………..11
№4. Расчет температуры ионизации Тs и Тi в акцепторном полупроводнике методом последовательных приближений…………………....13
№5. Расчет температурной зависимости положения уровня Ферми Ef(T) в донорном полупроводнике………………………………………………………...15
№6. Расчет критической концентрации вырождения донорной приме-си……………………………………………………………………………..19
№7. Расчет равновесной концентрации основных и неосновных носителей тока в p-n и n – областях p-n перехода при температуре Т=300К.....19
№8. Нахождение высоты потенциального барьера равновесного p-n-перехода и контактную разность потенциалов…………………………………..21
№9. Нахлждение положения уровней Ферми в p-n-перехода и n-областях относительно потолка зоны проводимости и дна валентной зоны соответствен-но……………………………………………………………………..21
№10. Нахождение толщины p-n-перехода в равновесном состоянии (Т=300К)………………………………………………………………………….....22
№11. Определение толщины пространственного заряда в p-n-областях..22
№12. Построение графика 5 «Энергетическая диаграмма p-n-перехода в равновесном состоянии»…………………………………………………………..23
№13. Нахождение максимальной напряженности электрического поля в равновесном p-n-переходе. Построение графика 6 «Зависимость напряженности электростатического поля от расстояния в p-n-переходе»….............................. 23
№14. Нахождение падение потенциала в p-n-областях пространственного заряда p-n-перехода………………………………………… ……………………24
№15. Построение графика 6 «Зависимость потенциала в p-n-областях от расстояния»………………………………………………………………………...25
№16. Вычисление барьерной емкости p-n-перехода в расчете на S=1 см²…………………………………………………………………………………...26
№17. Вычисление коэффициента диффузии для электронов и дырок ( в см²/с) и диффузионную длину для электронов и дырок………………………. 27
№18. Вычисление электропроводности и удельного сопротивления соб-ственного полупроводника, полупроводника n-и p-типа……………………28
№19. Определение величины плотности обратного тока p-n-перехода....29
№20. Построение обратной ветви ВАХ p-n-перехода, Т=300 К………....30
№21. Построение прямой ветви ВАХ p-n-перехода, Т=300 К…………...31
№22. Вычисление отношения jпр/jобри…………………………………. 32
Заключение……………………………………………………………….…34
Список литерату-ры………………………………………………….......................................……....35
Используем формулу:
Вычисляем:
7.
Расчет равновесной
концентрации основных
и неосновных носителей
тока в p-n и n – областях
p-n перехода при температуре
Т=300К.
Положим,
что примесь полностью ионизирована, будем
считать nno и npo
равным концентрации соответствующей
примеси. Концентрация неосновных носителей
найдем из закона действующих масс в см-3
и переведем в м-3.
Используем формулы:
Переводим из см-3 в м-3:
Вычисления:
8. Нахождение высоты потенциального барьера равновесного
p-n-перехода
и контактной разности
потенциалов.
9.
Нахождение положений
уровня Ферми в p-n-перехода
и n-областях относительно
потолка зоны проводимости
и дна валентной зоны.
а) Найдем Efn
б) Найдем Efp
в) определим высоту потенциального
барьера p-n-перехода (проверка правильности
п.8)
10.
Нахождение толщины
p-n-перехода в равновесном
состоянии. (Т=300К)
Вычисление:
11.
Определение толщины
пространственного
заряда в p-n-областях.
12.Энергетическая
диаграмма p-n-перехода
в равновесном состоянии.
График 5
13.
Нахождение максимальной
напряженности электрического
поля ε
max в равновесном
p-n-переходе.
График 6
Зависимость
напряженности
14.
Нахождение падения
потенциала в p-n-областях
пространственного
заряда p-n-перехода.
Расчетные формулы:
; ;
Вычисления:
Сравним с полученным ранее значением Vk:
15. По 5 значениям Хр через равные интервалы и вычислим 5 значений . Зададим 5 значений Хn через равные интервалы и вычислить 5 значений .
Пример вычислений:
Таблица 8
Результаты расчетов:
1 | 2 | 3 | 4 | 5 | |||||
xp*1E-7м | 0,16520 | 0,3304052 | 0,495607889 | 0,660810519 | 0,8260 | ||||
φp, В | 0,001234 | 0,0049384 | 0,011111602 | 0,019753959 | 0,03086 | ||||
xn*1E-7м | -1,6520 | -3,30405 | -4,9561 | -6,6081 | -8,26013 | ||||
φn,В | -0,01234 | -0,04938 | -0,1111 | -0,1975 | -0,30863 |
График 7
16.
Вычислим барьерную
емкость p-n-перехода
расчете на S=1 см² для
трех случаев:
а) равновесное
состояние p-n-перехода
б) при обратном смещении, V=1 В
в) при прямом
смещении, V=0,8 Vk
Вывод:
при прямом смещении барьерная ёмкость
увеличивается вследствие уменьшения
d, а при обратном, наоборот - ёмкость уменьшается,
а d растет.
17.
Вычисление коэффициента
диффузии для электронов
и дырок ( в см²/с) и диффузионной
длины для электронов
и дырок(в см) при Т=300
К
Воспользуемся формулами:
Вычисления:
18.
Вычисление электропроводности
и удельного сопротивления
собственного полупроводника,
полупроводника n-и p-типа
при Т=300 К.
Используем формулы:
Вычисления:
Вывод:
проводимостью неосновных носителей
в легированных полупроводниках можно
пренебречь по сравнению с проводимостью,
обусловленной основными носителями;
легированный полупроводник обладает
в десятки раз большей электропроводностью.
19.
Определение величины
плотности обратного
тока p-n-перехода при
Т=300 К в А/см²
20.
Построение обратной
ветви ВАХ p-n-перехода,
Т=300 К.
Пример вычисления:
Результаты расчетов:
Таблица 9
N | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | ||
qV, Кл*В | 4,2*1022 | 1,2*10-22 | 2,1*10-21 | 4,1*10-21 | 6,2*10-21 | 8,3*10-21 | ||
V,В | -0,0026 | -0,0078 | -0,013 | -0,026 | -0,039 | -0,0517 | ||
j*10-7А | -0,9103 | -2,479 | -3,764 | -6,047 | -7,437 | -8,271 |
7 | 8 | 9 | 10 | 11 | ||
1,3*10-20 | 1,7*10-20 | 2,1*10-20 | 2,5*10-20 | 8,3*10-20 | ||
-0,0776 | -0,1032 | -0,129 | -0,155 | -0,517 | ||
-9,0897 | -9,3908 | -9,501 | -9,542 | -9,566 | ||
График 8
Обратная ветвь ВАХ p-n-перехода при Т=300 К.
21.
Построение прямой ветви
ВАХ p-n-перехода, Т=300
К.
Пример вычисления:
Результаты расчетов:
Таблица 10
N | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | ||
qV, Кл*В | 4,2*1021 | 8,3*10-21 | 1,3*10-20 | 1,7*10-20 | 2,1*10-20 | 7,4*10-20 | ||
V,В | 0,026 | 0,052 | 0,078 | 0,116 | 0,129 | 0,465 | ||
j*10-6А | 1,643 | 6,117 | 1,826 | 8,515 | 14,101 | 62,802 |
График 9
Прямая ветвь ВАХ p-n-перехода при Т=300 К.
22. Вычисление отношения jпр/jобр при и при
Формулы:
Вывод.
Коэффициент
выпрямления зависит от подаваемого на
переход напряжения: чем это напряжение
больше, тем больше коэффициент выпрямления.
Заключение:
В результате курсовой
работы установленная цель была
достигнута: научился определять свойства
полупроводников, получил информацию
о зонной теории твердого тела и научился
применять полученные знания на практике.
Список
использованной литературы.
1 .Основы микроэлектроники
/ И.И. Степаненко - М: Физматлит, 2001.
2. Физические основы
электронной техники / С.А.Фридрихов, С.М.
Мовнин -1982.
3. Физика полупроводников
/ К.В. Шадимова - М: Энергоиздат, 1985.
4.
Лекции по ФОЭ / А.П. Дружинин.
Информация о работе Свойства полупроводников, расчет характеристик p-n-перехода