Автор: Пользователь скрыл имя, 21 Ноября 2012 в 12:48, контрольная работа
При определении параметров полупроводниковых материалов в настоящее время используются различные методы. К ним можно отнести:
Измерение удельного сопротивления полупроводниковых материалов и структур или четырехзондовый метод. В этом методе через 2 металлических острия пропускается ток, а на других 2 измеряется падение напряжения. Метод позволяет исключить влияние сопротивлений контактов.
Измерение концентрации и подвижности носителей заряда методом эффекта Холла, основанном на разделении электрических зарядов в магнитном поле и измерении возникающей эдс или тока Холла. Дополняющим методом является метод измерения магнетосопротивления.
5. Гуртов В.А. Твердотельная электроника. М: Техносфера 2005.