Автор: Пользователь скрыл имя, 02 Декабря 2010 в 08:44, курсовая работа
Объектом исследования являются оптический коммутационный элемент на основе неоднородной ФПМ-ЖК структуре.
Целью работы является аналитический обзор ФПМ-ЖК, построение аналитической модели и конструктивной модели оптического коммутационного элемента на основе неоднородной ФПМ-ЖК структуре.
В процессе работы был произведен аналитический обзор необходимо литературы, рассмотрены возможные материалы для изготовления оптического коммутационного элемента, построена аналитическая модель оптического коммутационного элемента и рассмотрено влияние различных параметров на него, рассмотрена конструктивная модель оптического коммутационного элемента.
Результаты работы могут быть использованы при создании оптического фильтра на основе неоднородной ФПМ-ЖК пропускающего типа.
Введение 6
1. Аналитический обзор голографических решеток в ФПМ. 8
1.1 Обзор применений голографических решеток. 8
1.2 Обзор материалов для записи голографических решеток. 8
1.3 Фотополимерные материалы для записи голографических решеток 9
2. Оптические характеристики оптического коммутационного элемента на основе электрически управляемой неоднородной ФПМ-ЖК голографической дифракционной решетки пропускающего типа 11
2.1 Аналитическая модель. 11
2.2 Дифракционная эффективность для s и p компонент взаимодействующей волны в зависимости от приложенного напряжения. 13
2.3 Селективные свойства ячейки. 14
3. Конструктивная реализация оптического коммутационного элемента. 16
Заключение. 17
Список использованной литературы. 18
Приложение 1. 19
Исторически, в качестве материалов для записи использовались:
В основе ФПМ лежат реакции радикальной, катионной, а также смешанной радикально-катионной фотополимеризации[4].
В
облученных участках образуется полимер.
Вследствие возникающего под действием
света пространственного
1.4 ФПМ c ЖК компонентой.
ФПМ материалы с ЖК компонентой вызывают большой интерес в настоящее время из-за своих возможностей в применении. Существуют различные материалы такие как PDLC, HPDLC, POLYCRIPS. Рассмотрим каждый из них по отдельности:
PDLC – фотополимерный жидко-кристаллический материал (Polymer Dispersed Liquid-Crystal).
PDLC состоят из каплей ЖК, которые соизмеримы со световой длиной волны, производящие сильное световое рассеяние. Эти капли являются нано-размерными (нано-PDLC), электрические поля переориентируют LC молекулы. Единственная возможность использования дисперсионного полимера ЖК (PDLC) для записывания информации, электрического переключения, голографических решеток, применимых для различных приложений в стекловолоконной оптике приборов, особенно в области оптической телекоммуникации. Однако, PDLC находятся под влиянием помех, которые ограничивают действительную утилизации этих материалов [7].
Объемные решетки созданы таким образом, что состоят из периодических рассредоточенных полимерных жидкокристаллических слоев, отделенных твердым полимером [8]. Такая структура называется голографический фотополимерный жидко-кристаллический материал (HPDLC). HPDLC обладает некоторыми свойствами: пропускающие решетки в HPDLC полностью зависят от поляризации дисплея. В голограммах управления отражение HPDLC решеток является анизотропным [9].
Нано-размерные
капли имеют развитый и запантентованный
новый LC полимер, основанный на дифракции
решетки, имеющий название POLICRYPS.
POLICRYPS состоит из чередующейся последовательности
ЖК слоев и полимерных пленок. Недостаток
капли состоит в том, что рассеяние делает
их прозрачними в переориентированном
и не в переориентированном состоянии[7].
При голографическом формировании ДР в ФПМ-ЖК материале за счет фотополимеризационного (рис 2.1, 2.2), диффузионного и инкапсуляционного механизмов формируется пространственно-неоднородное распределение тензора диэлектрической проницаемости:
, (2.1)
где - нормированный профиль первой гармоники показателя преломления ДС; ; r – объемная доля молекул ЖК, ; I – единичный тензор; К – вектор решетки, - статистически усредненный тензор диэлектрической проницаемости ЖК, E=eeE, E- напряженность приложенного электрического поля, ee- орт электрического поля.
Возмущение
тензора диэлектрической
, (2.2)
где Eс- критическая напряженность приложенного электрического поля, , соответствует E=0.
Статистику распределения директора ЖК в (3.34), с учетом большого количества молекул ЖК, можно принять гауссовой [34]:
, , (2.3)
где и - функции распределения директора ЖК в капсуле для углов α и φ соответственно (рис. 3.8); , - средние значения; , -среднеквадратические отклонения.
Тогда, статистически усредненное возмущение ЖК составляющей тензора диэлектрической проницаемости в (1.1) можно представить:
, (2.4)
где -компоненты тензора диэлектрической проницаемости ЖК при продольной и поперечной ориентации директора.
Световое поле на выходе ФПМ-ЖК[1]:
, (2.5)
При голографической записи ДС в поглощающих ФПКМ-ЖК профиль первой гармоники показателя преломления является существенно неоднородным и трансформирующимся со временем записи. Для произвольного времени записи результирующий профиль может быть аппроксимирован выражением:
,
где c,s,t – параметры, определяемые путем минимизации функционала среднеквадратического отклонения аппроксимирующей функции от профиля. В этом случае ошибка аппроксимации не превышает 3%.
Ввиду анизотропных свойств ФПМ-ЖК, взаимодействие световых пучков в области дифракции определяются двумя независимыми системами уравнений связанных волн (УСВ) в частных производных. Для распределения их решения находятся методом Римана. В апертурных координатам , результирующее выражение для амплитудного профиля дифракционного поля в первом порядке на выходе ДС имеет вид:
(2.7)
где – гипергеометрическая функция Гаусса,
; , - коэффициенты связи и - фазовая расстройка, зависящие от внешнего управляющего электрического поля E , , - угол между нормалями N1 и осью y, j=0,1, L-толщина образца, светового пучка, - амплитудный профиль падающего пучка на входе ДР (при y=0), m=o,e- обыкновенная и необыкновенная волны.
В итоге, векторные амплитуды волн на выходной плоскости для дифрагированных и прошедших волны запишется в виде суммы обыкновенных и необыкновенных волн, определяемых решениями:
,
.
(2.8)
Рис 2.3 – Зависимость дифракционной эффективности от приложенного напряжения.
Расчеты
произведены с помощью формулы
и
в MathCad.
Рассмотрим селективные свойства по углу при различных значениях поля для s и p компоненты.
Рис 2.4 –Графики
зависимости
Рис
2.5 –Графики зависимости
Расчеты проведены по формулам:
И для p-поляризации соответственно:
(2.10)
Материалом
для изготовления оптического коммутационного
элемента является структура на основе
полимерной композиции и жидких кристаллов.
Возможная реализация оптического фильтра
на основе ФПМ с ЖК компонентой представлена
на рисунке(рис 3.1).
Рис. 3.1 – Изображение
В
данных структурах используют нематические
жидкие кристаллы. Приложенное э/м
поле направляет директор ЖК в нужное
направление.
\
Данная работа посвящена формированию неоднородных голографических решеток в ФПМ-ЖК в пропускающих средах в процессе одновременной записи несколькими световыми пучками и исследование их применений в технике оптической связи.
Был сделан краткий аналитический обзор голографических решеток в ФПМ, рассмотрены основные применения дифракционных структур в различных областях.
Для электрически управляемые оптические коммутационные элементы на основе неоднородных ФПМ-ЖК голографических дифракционных решеток пропускающего типа была построена аналитическая модель для дальнейших расчетов.
Была найдена и представлена на графике при помощи MathCad зависимость дифракционной эффективноси для s и p компонент взаимодействующей волны в зависимости от приложенного напряжения.