Контрольная работа по дисциплине «Товароведение и экспертиза в таможенном деле»

       В зависимости от числа привлекаемых таможенных экспертов назначается единоличная, комиссионная или комплексная таможенная экспертиза.

     Единоличная таможенная экспертиза - таможенная экспертиза, проводимая таможенным экспертом единолично.

     Комиссионная  таможенная экспертиза - таможенная экспертиза, проводимая комиссией  таможенных экспертов одной специальности. При разногласиях между таможенными экспертами каждый из них или часть экспертов вправе представить отдельное заключение таможенного эксперта.

     Комплексная таможенная экспертиза - таможенная экспертиза, проводимая комиссией таможенных экспертов  в случаях, когда для установления обстоятельств, имеющих значение для  дела, необходимы исследования на основе использования знаний различных  специальностей, в пределах компетенции таможенных экспертов. Каждый таможенный эксперт подписывает ту часть заключения таможенного эксперта, по которой проводил таможенную экспертизу.

       Таможенная экспертиза подразделяется  на первичную, дополнительную и повторную.

     Первичная таможенная экспертиза - таможенная экспертиза, проводимая по обращению таможенного  органа для изучения объектов, проб и образцов.

     Дополнительная  таможенная экспертиза - таможенная экспертиза, назначаемая по вновь открывшимся  обстоятельствам. Производство дополнительной таможенной экспертизы поручается тому же или другому таможенному эксперту .

     Повторная таможенная экспертиза - таможенная экспертиза, проводимая в случаях несогласия декларанта, а также таможенного  органа, назначившего таможенную экспертизу, с заключением таможенного эксперта по результатам первичной и (или) дополнительной таможенных экспертиз.

     Повторная таможенная экспертиза поручается комиссии, состоящей из 2 и более таможенных экспертов, за исключением таможенного эксперта, проводившего (проводивших) первичную и (или) дополнительную таможенные экспертизы. Таможенные эксперты, проводившие первичную и (или) дополнительную таможенные экспертизы, могут присутствовать при проведении повторной таможенной экспертизы и давать комиссии пояснения, однако в исследовании и составлении заключения таможенного эксперта они не участвуют.

     Порядок проведения повторной таможенной экспертизы на таможенной территории таможенного  союза определяется решением Комиссии таможенного союза.

     При проведении дополнительной и повторной  таможенных экспертиз таможенному эксперту в обязательном порядке представляются результаты первичной таможенной экспертизы.

Пробы и образцы товаров

       Должностные лица таможенных  органов отбирают пробы и образцы  товаров для проведения таможенной  экспертизы в порядке, установленном  законодательством государств-членов  таможенного союза.

     При необходимости использования специальных  познаний и применения технических  средств отбор проб и образцов товаров может проводиться с  участием таможенного эксперта.

     Пробы и образцы товаров отбираются в минимальных количествах, обеспечивающих возможность их исследования. Об отборе проб и образцов товаров составляется акт в 2 экземплярах по форме, установленной решением Комиссии таможенного союза.

Второй экземпляр  акта подлежит вручению (направлению) декларанту, иному лицу, обладающему  полномочиями в отношении товаров, или их представителям, если они  установлены.

       Декларант, иное лицо, обладающее  полномочиями в отношении товаров,  или их представители принимают  участие при отборе проб и  образцов товаров должностными  лицами таможенных органов. Указанные  лица обязаны оказывать содействие  должностным лицам таможенных  органов при отборе проб и  образцов товаров, в том числе  осуществлять за свой счет  необходимые грузовые и иные  операции.

     Пробы и образцы товаров могут отбираться таможенными органами в отсутствие декларанта, иного лица, обладающего  полномочиями в отношении товаров, или их представителей в случаях, предусмотренных пунктом 5 статьи 116 настоящего Кодекса.

В таких случаях  отбор проб и образцов товаров  осуществляется в присутствии 2 понятых.

     Таможенный  орган не возмещает расходы, возникшие  у декларанта, иного лица, обладающего  полномочиями в отношении товаров, или их представителей в результате отбора проб и образцов товаров.

       По окончании таможенной экспертизы  пробы и образцы товаров возвращаются  декларанту, иному лицу, обладающему  полномочиями в отношении товаров,  или их представителям либо  в таможенный орган, назначивший  таможенную экспертизу, за исключением  случаев, когда такие пробы  и образцы подлежат уничтожению  или утилизации в соответствии  с законодательством государств-членов  таможенного союза. 
 

Вопрос 2 Сканирующий электронный микроскоп.

     Электронный микроскоп впервые был применен в 30-х годах XX в., а развитие сканирующей  электронной микроскопии началось в начале 1960-х годов и продолжалось практически параллельно с развитием  микроанализа. При исследовании минералов  сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) обычно используется в варианте отражения, поскольку большинство  минералов сильно поглощают электронный  пучок, так что электроны проходят лишь через чрезвычайно тонкие образцы (толщиной не более 1 мкм), которые трудно приготовить.

     В настоящее время иногда бывает трудно отличать СЭМ от РЭМ. Электронно-оптическое разрешение истинного микроанализатоpa улучшалось до тех пор, пока не приблизилось (хотя и не сравнялось) к разрешению истинного СЭМ. Кроме того, большинство современных электронных микроскопов снабжены одним рентгеновским спектрометром или, чаще всего, рентгеновскими детекторами рассеяния энергии. В то же время СЭМ разработан для достижения наилучшего пространственного разрешения, а микроанализатор - для достижения наилучшего химического разрешения.

     Электронный пучок в СЭМ имеет диаметр  около 10 нм, а поток много меньше, чем в РЭМ. Как и в микроанализаторе, пучок сканирует соответствующим образом приготовленный образец с помощью набора сканирующих колец. Пучок влияет на образец примерно так же, как и пучок в микроанализаторе. Однако основной используемой в СЭМ дискриминантой является электронный сигнал, исходящий из точки падения пучка. Пользуясь соответствующими электронными фильтрами и определительными системами, можно выявить как особенности состава, так и фотографические особенности поверхности образца. Как было описано выше, электроны обратного рассеяния (отраженные электроны) - это электроны первичного пучка, которые после многочисленных рикошетов в объеме образца вновь выходят на его поверхность. Энергии электронов обратного рассеяния находятся в пределах от энергии пучка (несколько тысяч электрон-вольт) до нуля. Имеют место и вторичные электроны, энергии которых находятся в пределах от 50 эВ до нуля и являются характеристичными для элементов, составляющих облучаемый образец.

     Топографическая деталь такой поверхности увеличит обратное рассеяние в определенных направлениях, уменьшив его в других направлениях. Если поместить два  детектора электронов обратного  рассеяния на диаметрально противоположных  сторонах образца, можно, вычитая один сигнал из другого, получить изображение, не учитывающее влияние вариаций атомного номера и практически полностью  отвечающее деталям топографии. В  то же время при суммировании сигналов, регистрируемых детекторами, расположенными на диаметрально противоположных сторонах образца, нивелируется влияние деталей  топографии и получается изображение, обусловленное в основном различиями атомных номеров элементов в  образце.

     Большего  пространственного разрешения (около 10 нм) и большей глубины фокуса можно достичь, используя "вторичное" электронное изображение. Вторичные  электроны испускаются практически  мгновенно из точки падения электронного пучка на образец, причем пространственное разрешение приблизительно равно ширине пучка. Однако, несмотря на очень малые  размеры электронного пучка в СЭМ, пространственное разрешение при использовании первичных рентгеновских сигналов равно 1 - 2 мкм.

     СЭМ используется аналогично обычному оптическому  микроскопу и получаемые с их помощью  изображения часто похожи. В то же время СЭМ может обеспечить изображения в очень большом  интервале полезного увеличения, одновременно обладая существенно  большей по сравнению с оптическим микроскопом глубиной резкости.